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首頁-產品系統(tǒng)-FTIR系列-IRE200
光學薄膜測厚儀,IRE-200是一款超高精度的外延層厚度測量設備，利用紅外光譜經傅里葉變換進行快速分析，主要應用于Si、GaAs、InP、SiC、GaN等各類外延片的外延層厚度測量。
更新日期：2025-04-27
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