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IRE-200 膜厚測試儀

光學薄膜測厚儀,IRE-200是一款超高精度的外延層厚度測量設備,利用紅外光譜經傅里葉變換進行快速分析,主要應用于Si、GaAs、InP、SiC、GaN等各類外延片的外延層厚度測量。

更新日期:2025-04-27

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廠商性質:生產廠家

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